一种基于TSC695处理器的可加载型通用RAM自测试方法

专利号：CN202110136085.6

公布日：2023-05-05

申请人：上海航天计算机技术研究所

一种存储器的自检测电路和方法

专利号：CN201010539842.6

公布日：2011-04-13

申请人：无锡中星微电子有限公司

产生测试模式信号的设备和方法

专利号：CN201010216193.6

公布日：2011-06-29

申请人：海力士半导体有限公司

一种防护性能测试方法及装置

专利号：CN202210054213.7

公布日：2022-04-26

申请人：中国建设银行股份有限公司

一种ID地址的测试方法，系统，测试工具以及存储介质

专利号：CN202211022231.3

公布日：2023-10-03

申请人：惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司

测试目标的IP地址获取方法、装置及存储介质

专利号：CN201911305334.9

公布日：2023-06-13

申请人：广州品唯软件有限公司

存储器电阻测试方法、半导体结构及其制备方法

专利号：CN202310561624.X

公布日：2023-08-29

申请人：长鑫存储技术有限公司

一种存储器测试电路及装置

专利号：CN201980098403.5

公布日：2022-03-01

申请人：华为技术有限公司

手机银行功能测试环境地址配置方法及装置

专利号：CN202111264193.8

公布日：2022-02-08

申请人：中国银行股份有限公司

应用测试邀请方法和装置

专利号：CN201710147239.5

公布日：2020-11-27

申请人：腾讯科技（深圳）有限公司

处理器程序的测试方法和装置

专利号：CN201610620616.8

公布日：2020-07-28

申请人：龙芯中科技术有限公司

内存测试方法、装置及电子设备

专利号：CN202111448794.4

公布日：2022-03-01

申请人：新华三技术有限公司合肥分公司

测量L2+L3 VPN网络性能的方法、路由器和系统

专利号：CN201410515529.7

公布日：2018-09-21

申请人：中国电信股份有限公司

一种性能测试方法、设备及存储介质

专利号：CN202110888363.3

公布日：2021-12-03

申请人：北京达佳互联信息技术有限公司

测试任务管理方法、装置、电子设备和存储介质

专利号：CN202210210924.9

公布日：2022-06-07

申请人：北京沃东天骏信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司